網站首頁
產品中心
自研產品
新設備代(dài)理
再製造設備
關於我們
公司簡介
企業文化
企業實力
合(hé)作品牌
應用領域
招賢納士
新聞中心
公司(sī)新聞
行業新聞
聯係(xì)我們
CONTACT US
材料
關(guān)鍵詞:
Dark Field(暗場(chǎng)缺陷檢測)
關鍵詞:
Therma Wave
納米
厚度(dù)
質量
Stress(應力檢測)
KLA
半導(dǎo)體
發現
效應
Review SEM(複檢電鏡)
FEI
半(bàn)導體
原子
摻雜
材(cái)料(liào)
最新產品(pǐn)
光纖光柵測溫及真(zhēn)空檢測係統
光纖光柵測(cè)溫及真空檢測係統
MIS MARS X8 Plus(15寸大物體非破壞(huài)電子(zǐ)束微(wēi)檢測係統)
Scrubber(尾氣處理設備)
Dark Field(暗場缺(quē)陷檢測)
Bright Field(明場(chǎng)缺陷檢測)
Particle Counter(顆(kē)粒(lì)檢測)
Stress(應(yīng)力檢測)
CDSEM(線寬檢測)
最新新聞
探索(suǒ)半導體設備行業動態的未來趨勢
探索半導體設備的行業解(jiě)決(jué)方案
半導體設備的奧秘與未來發(fā)展
探討(tǎo)半導體工藝的未來行業方案
探索半導體設備的多元應用場景
掌握半導(dǎo)體設備使用的注意事(shì)項
快速導航
自研產(chǎn)品
新設備代理
招賢納(nà)士
新(xīn)聞中心
聯係我們
公司(sī)地址(zhǐ):無錫市新吳區珠(zhū)江路95-2號A棟四樓
電話:0510-88350068
郵箱:inform@kratos.com.cn
Copyright © 2023 91av半(bàn)導體(無錫)有限公司
網(wǎng)站建設:中企動力 無(wú)錫 | SEO