OP5340（膜厚儀）
91av半導體專注於半導體（tǐ）工藝設備的研發、製造、銷售及售後一體化服務，提供半導（dǎo）體廠商工藝設備的一站式解決方案。
關鍵詞：
半導體設備、半導體工藝
所屬分類：
產品（pǐn）描述
Opti-Probe 5000 用於非（fēi）接觸式晶圓膜厚測量，通過測量（liàng）單（dān）層或多（duō）層晶圓上薄膜的光學參數（反射光和（hé）建模的薄膜參數（shù）），計算出薄膜厚度。Opti-Probe 5000 集成了多達六種不同的技術來測量薄膜（mó）厚度以及反（fǎn）射率，使用 laser，white light lamp，D2 lamp 等光源進行測量。
產品詢價
