OP5240I（膜（mó）厚儀）
91av半導（dǎo）體專注於半（bàn）導體工藝設備的（de）研發、製造、銷售及售後一體化服務，提供半（bàn）導體廠商工藝設備的一站式解決方案。
關鍵詞：
半（bàn）導體設備、半（bàn）導體工藝（yì）
所屬分類：
產品描述（shù）
Opti-Probe 5000 用於非接觸式晶（jīng）圓膜厚測量，通（tōng）過測（cè）量單層或（huò）多層晶圓上薄膜的光學參（cān）數（反射光（guāng）和建模（mó）的薄膜參數），計算出薄膜厚度。Opti-Probe 5000 集成了多達六種不同的技（jì）術來測量薄膜厚度以及（jí）反（fǎn）射率，使用 laser，white light lamp，D2 lamp 等（děng）光源進行測量。
產品詢價
